数字 IC 老化测试系统
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概览
描述
瑞萨的数字 IC 老化测试系统解决方案基于高性能 RA4 微控制器 (MCU)、高性能电源解决方案和电源监控模拟前端 IC。基于 RA4 Arm® 的 MCU 可以完全满足您对系统控制的要求。ISL8272M 和 ISL8277M 高性能电源模块提供 PMBus 接口，来调整被测 IC 上电源的输出电压和市场上最佳的热性能。ISL28023 电源监控 IC 为高精度测试电压和电流提供反馈。借助瑞萨的这些解决方案，客户可使他们的老化测试系统更紧凑，能更灵活地应用于不同的 IC。
系统优势:
- RA4M1 集成了高性能的 CTSU/12 位 ADC/LCD 控制器/USB
- ISL8272/ISL8277M PMBus 兼容的电源模块针对测试系统中的不同电压要求提供了最佳的灵活性
- ISL28023 精密电源监控模拟前端有助于优化测试系统的准确性
图像
成功产品组合
瑞萨电子提供数十种成功的新产品组合 这些专家设计了展示瑞萨电子的嵌入式处理、模拟、电源和连接的互补产品组合。 有了这些经过工程师审查的设计，客户就可以利用优化的平台来实现他们的设计思路，加快产品开发周期并降低将设计投放市场的总体风险。