Pitch (mm) | |
Lead Count (#) | 0 |
Pkg. Dimensions (mm) | 0.0 x 0.0 x 0.0 |
Pkg. Code | DICE |
Pkg. Type | WAFER |
Moisture Sensitivity Level (MSL) | 1 |
Pb (Lead) Free | Yes |
ECCN (US) | |
HTS (US) |
Lead Count (#) | 0 |
Carrier Type | Wafer |
Moisture Sensitivity Level (MSL) | 1 |
Description | Wafer Unsawn |
Pitch (mm) | 0.0 |
Pkg. Dimensions (mm) | 0.0 x 0.0 x 0.0 |
Qty. per Reel (#) | 0 |
Pb (Lead) Free | Yes |
Pb Free Category | e3 Sn |
Temp. Range (°C) | -40 to 150°C |
Country of Wafer Fabrication | Taiwan |
Adj. Analog Gain | 3 - 912 |
Automotive Qual. | Yes |
Function | Resistive SSC |
Input Type | Single-bridge |
Interface | I2C, Ratiometric Analog Voltage, ZACwire™ (OWI) |
Length (mm) | 0.0 |
MOQ | 4580 |
Pkg. Type | WAFER |
Qty. per Carrier (#) | 0 |
Requires Terms and Conditions | Does not require acceptance of Terms and Conditions |
Resolution (bits) | 18 |
Sample Rate Max (KHz) | 10 |
Supply Voltage (V) | 4.5 - 5.5 |
Tape & Reel | No |
Thickness (mm) | 0.0 |
Width (mm) | 0.0 |
已发布 | No |
RAA2S4251B 是瑞萨电子的一款 CMOS 集成电路,专为高精度放大和差分桥传感器信号的传感器特定校正设计。 RAA2S4251B 具有模拟传感器偏移校正功能,最大模拟预放大倍数高达 900,可以调节适应几乎所有电阻电桥。
调节计算通过 16 位 RISC 微控制器实现。 校准系数和配置数据存储在非易失性存储器(NVM)中,这在汽车应用中是一种可靠的存储方式。
测量值通过比率模拟输出信号提供。 该输出引脚还支持通过单线接口(OWI)进行末端线校准。 数字化校准有助于降低组装成本,因为无需通过外部设备或激光进行修整。 RAA2S4251B 进行了优化,配有过电压和反极性保护电路,具备优异的电磁兼容性和多种诊断功能,适用于恶劣的汽车环境。