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描述

The ISL71090SEH50EV1Z evaluation board is designed to measure the performance of the radiation hardened ultra-low noise, high-precision ISL71090SEH50 voltage reference.

The ISL71090SEH50 reference has a wide input voltage range from 7V to 30V and uses advanced bipolar technology to achieve 1.1μVP-P noise at 0.1Hz with an accuracy over-temperature of 0.15%. The ISL71090SEH50 offers a 5.0V output voltage with 10ppm/°C temperature coefficient and also provides excellent line and load regulation. The device is offered in an 8 Ld Flatpack package and is ideal for high-end instrumentation, data acquisition, and applications requiring high DC precision where low noise performance is critical.

特性

  • Reference output voltage: 5.0V ±0.05%
  • Accuracy over temperature: ±0.15%
  • Output voltage noise: 1.1μVP-P typical (0.1Hz to 10Hz)
  • Supply current: 930μA (typical)
  • Tempco (box method): 10ppm/°C maximum
  • Output current capability: 20mA
  • Line regulation: 8ppm/V
  • Load regulation: 10ppm/mA
  • Operating temperature range: -55°C to +125°C
  • Radiation environment
    • High dose rate: (50-300rad(Si)/s): 100krad(Si)
    • Low dose rate: (0.01rad(Si)/s):  50krad(Si)*
    • SET/SEL/SEB: 86MeV•cm2/mg
  • Electrically screened to SMD 5962-13211

应用

文档

类型 文档标题 日期
手册 - 开发工具 PDF 285 KB
数据手册 PDF 474 KB
2 项目

设计和开发

软件与工具

软件下载

类型 文档标题 日期
PCB 设计文件 ZIP 603 KB
1 项目

模型

ECAD 模块

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