特性
- High-Voltage Type (20V Rating)
- Set-Reset Capability
- Static Flip-Flop Operation - Retains State Indefinitely With Clock Level Either "High" Or "Low"
- Medium-Speed Operation - 16 MHz (typ.) Clock Toggle Rate at 10V
- Standardized Symmetrical Output Characteristics
- 100% Tested for Quiescent Current at 20V
- Maximum Input Current of 1µA at 18V Over Full Package Temperature Range; 100nA at 18V and +25°C
- Noise Margin (Over Full Package Temperature Range): 1V at VDD = 5V 2V at VDD = 10V 2.5V at VDD = 15V
- 5V, 10V and 15V Parametric Ratings
- Meets All Requirements of JEDEC Tentative Standard No. 13B, "Standard Specifications for Description of 'B' Series CMOS Devices"
描述
Support is limited to customers who have already adopted these products.
CD4013BMS consists of two identical, independent data type flip-flops. Each flip-flop has independent data, set, reset, and clock inputs and Q and Q outputs. These devices can be used for shift register applications, and, by connecting Q output to the data input, for counter and toggle applications. The logic level present at the D input is transferred to the Q output during the positive going transition of the clock pulse. Setting or resetting is independent of the clock and is accomplished by a high level on the set or reset line, respectively. The CD4013BMS is supplied in these 14 lead outline packages: Braze Seal DIP H4Q Frit Seal DIP H1B Ceramic Flatpack H3W
应用
- Registers
- Counters
- Control Circuits
| Part Number | Status | Samples | Stock | Package | Lead Count (#) | Carrier Type | DLA SMD | Pb (Lead) Free | MOQ | Temp. Range (°C) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| CD4013BKMSR | Obsolete | N/A | Out of Stock | CFP | 14# | Tray | 5962-96622 | No | 15 | -55 to +125°C |
| CD4013BKNSR | Obsolete | N/A | Out of Stock | CFP | 14# | Tray | 5962-96622 | No | 15 | -55 to +125°C |
加载中
- 应用说明英语PDF 338 KB an9867 1999年11月10日AI 生成的摘要: Electrical parameters are monitored during life testing to detect drift and failures, defined by exceeding datasheet limits. New products require less than 1% failure during burn-in, with failure analysis and corrective actions if exceeded. Sampling plans ensure defect rates below 3%. Life tests last 1000-3000 hours at 125°C depending on process maturity. Failure mechanisms include electromigration, ionic contamination, hot carrier injection, and dielectric rupture. Product sign-off requires all parties' approval after reliability confirmation. Space products undergo burn-in and quality conformance inspections with strict failure limits. Derating is unnecessary as datasheet limits are set at 6-sigma from characterization data, ensuring reliability.
推荐文档 (1)
数据手册 (1)
No Results Found.
检查拼写
确保所有关键词拼写正确。
确保所有关键词拼写正确。
调整关键词
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
查看筛选器
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
需要帮助?
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
- 应用说明英语PDF 338 KB an9867 1999年11月10日AI 生成的摘要: Electrical parameters are monitored during life testing to detect drift and failures, defined by exceeding datasheet limits. New products require less than 1% failure during burn-in, with failure analysis and corrective actions if exceeded. Sampling plans ensure defect rates below 3%. Life tests last 1000-3000 hours at 125°C depending on process maturity. Failure mechanisms include electromigration, ionic contamination, hot carrier injection, and dielectric rupture. Product sign-off requires all parties' approval after reliability confirmation. Space products undergo burn-in and quality conformance inspections with strict failure limits. Derating is unnecessary as datasheet limits are set at 6-sigma from characterization data, ensuring reliability.
应用说明和白皮书 (1)
No Results Found.
检查拼写
确保所有关键词拼写正确。
确保所有关键词拼写正确。
调整关键词
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
查看筛选器
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
需要帮助?
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
检查拼写
确保所有关键词拼写正确。
确保所有关键词拼写正确。
调整关键词
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
查看筛选器
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
需要帮助?
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
检查拼写
确保所有关键词拼写正确。
确保所有关键词拼写正确。
调整关键词
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
查看筛选器
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
需要帮助?
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
检查拼写
确保所有关键词拼写正确。
确保所有关键词拼写正确。
调整关键词
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
查看筛选器
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
需要帮助?
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
检查拼写
确保所有关键词拼写正确。
确保所有关键词拼写正确。
调整关键词
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
查看筛选器
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
需要帮助?
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
检查拼写
确保所有关键词拼写正确。
确保所有关键词拼写正确。
调整关键词
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
查看筛选器
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
需要帮助?
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
检查拼写
确保所有关键词拼写正确。
确保所有关键词拼写正确。
调整关键词
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
查看筛选器
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
需要帮助?
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
营销资料 (1)
No Results Found.
检查拼写
确保所有关键词拼写正确。
确保所有关键词拼写正确。
调整关键词
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
查看筛选器
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
需要帮助?
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
检查拼写
确保所有关键词拼写正确。
确保所有关键词拼写正确。
调整关键词
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
查看筛选器
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
需要帮助?
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助