特性
- This Circuit is Processed in Accordance to MIL-STD- 883 and is Fully Conformant Under the Provisions of Paragraph 1.2.1.
- Low Power Standby and Operating Power
- ICCSB 100µA
- ICCOP 20mA at 1MHz
- Fast Access Time 120/200ns
- Wide Operating -55°C to +125°C
- Temperature Range
- Industry Standard Pinout
- Single 5.0V Supply
- CMOS/TTL Compatible Inputs
- Field Programmable
- Synchronous Operation
- On-Chip Address Latches
- Separate Output Enable
描述
The HM-6642/883 is a 512 x 8 CMOS NiCr fusible link Programmable Read Only Memory in the popular 24 pin, byte wide pinout. Synchronous circuit design techniques combine with CMOS processing to give this device High-Speed performance with very low power dissipation. On-chip address latches are provided, allowing easy interfacing with recent generation microprocessors that use multiplexed address/data bus structures, such as the 8085. The output enable controls, both active low and active high, further simplify microprocessor system interfacing by allowing output data bus control independent of the chip enable control. The data output latches allow the use of the HM-6642/883 in High-Speed pipelined architecture systems, and also in synchronous logic replacement functions. Applications for the HM-6642/883 CMOS PROM include low power hand held microprocessor based instrumentation and communications systems, remote data acquisition and processing systems, processor control store, and synchronous logic replacement. All bits are manufactured storing a logical "0" and can be selectively programmed for a logical "1" at any bit location.
产品参数
| 属性 | 值 |
|---|---|
| Rating | MIL-STD-883 |
| Temp. Range (°C) | -55 to +125°C |
| Flow | Harsh Environment & MIL-STD-883 |
| Qualification Level | Class Q |
| Die Sale Availability? | No |
| PROTO Availability? | No |
封装选项
| Pkg. Type | Pkg. Dimensions (mm) | Lead Count (#) | Pitch (mm) |
|---|---|---|---|
| SBDIP | 30.5 x 15.1 x 2.41 | 24 | 2.5 |
| Part Number | Status | Samples | Stock | Package | Lead Count (#) | Carrier Type | Moisture Sensitivity Level (MSL) | Pb (Lead) Free | Pb Free Category | MOQ | Temp. Range (°C) | CAGE code |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| HM1-6642B/883 | Active | Available | Out of Stock | SBDIP | 24# | Tube | Not Applicable | No | Hot Solder Dip | 90 | -55 to +125°C | 34371 |
| 5962-8869002JA | Obsolete | N/A | Out of Stock | SBDIP | 24# | Tube | Not Applicable | No | Hot Solder Dip | 60 | -55 to +125°C | 34371 |
- 产品变更通告英语PDF 260 KB PCN16087 2016年9月30日
- EOL 通告英语PDF 200 KB PLC15033 2015年6月11日
- 产品变更通告英语PDF 174 KB PCN14017 2014年4月21日
- 应用说明英语PDF 224 KB an9654 1999年5月05日AI 生成的摘要: The document explains the reliability and failure mechanisms of semiconductor parts, focusing on life testing and wearout. It discusses how switching states cause transient current pulses and hot carrier injection, which only occur briefly during switching. Life testing at elevated temperatures accelerates aging to remove infant mortality failures, improving reliability. The failure rate follows a bathtub curve with infant mortality, useful life, and wearout phases, modeled by lognormal and exponential distributions. The Arrhenius equation relates failure rates at different temperatures. Burn-in and life tests reduce early failures without harming intrinsic reliability.
推荐文档 (1)
数据手册 (1)
No Results Found.
确保所有关键词拼写正确。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
- 应用说明英语PDF 224 KB an9654 1999年5月05日AI 生成的摘要: The document explains the reliability and failure mechanisms of semiconductor parts, focusing on life testing and wearout. It discusses how switching states cause transient current pulses and hot carrier injection, which only occur briefly during switching. Life testing at elevated temperatures accelerates aging to remove infant mortality failures, improving reliability. The failure rate follows a bathtub curve with infant mortality, useful life, and wearout phases, modeled by lognormal and exponential distributions. The Arrhenius equation relates failure rates at different temperatures. Burn-in and life tests reduce early failures without harming intrinsic reliability.
应用说明和白皮书 (1)
- 产品变更通告英语PDF 260 KB PCN16087 2016年9月30日
- EOL 通告英语PDF 200 KB PLC15033 2015年6月11日
- 产品变更通告英语PDF 174 KB PCN14017 2014年4月21日查看更多 (6)
产品通告(产品变更、EOL 等) (6)
No Results Found.
确保所有关键词拼写正确。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
确保所有关键词拼写正确。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
确保所有关键词拼写正确。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
确保所有关键词拼写正确。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
确保所有关键词拼写正确。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
确保所有关键词拼写正确。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
确保所有关键词拼写正确。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
确保所有关键词拼写正确。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助
No Results Found.
确保所有关键词拼写正确。
尝试使用更少、不同或更宽泛的词语来改变搜索结果。
如果您使用了筛选器,请考虑取消选择某些筛选器选项以扩大搜索结果。
- 搜索我们丰富的知识库,帮助您解答常见问题
- 前往支持论坛,获取瑞萨电子技术专家和社群的帮助