特性
- 1A MOSFET gate driver
- 90µA start-up current, 125µA maximum
- 35ns propagation delay current sense to output
- Fast transient response with peak current mode control
- 30V operation
- Adjustable switching frequency to 2MHz
- 20ns rise and fall times with 1nF output load
- Trimmed timing capacitor discharge current for accurate deadtime/maximum duty cycle control
- 1.5MHz bandwidth error amplifier
- Tight tolerance voltage reference over line, load and temperature
- ±3% current limit threshold
- Pb-free plus anneal available and ELV, WEEE, RoHS Compliant
描述
The ISL884xA is a high performance drop-in replacement for the popular 28C4x and 18C4x PWM controllers suitable for a wide range of power conversion applications including boost, flyback, and isolated output configurations. Its fast signal propagation and output switching characteristics make this an ideal product for existing and new designs. Features include 30V operation, low operating current, 90µA start-up current, adjustable operating frequency to 2MHz, and high peak current drive capability with 20ns rise and fall times.
应用
- Telecom and datacom power
- Wireless base station power
- File server power
- Industrial power systems
- PC power supplies
- Isolated buck and flyback regulators
- Boost regulators
| Part Number | Status | Samples | Stock | RoHS | Package | Lead Count (#) | Carrier Type | Moisture Sensitivity Level (MSL) | Pitch (mm) | Pkg. Dimensions (mm) | Pb (Lead) Free | Pb Free Category | MOQ | Temp. Range (°C) |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| ISL8844AABZ | Obsolete | N/A | In Stock | RoHS:EN | SOICN | 8# | Tube | 3 | 1.3mm | 4.9 x 3.9 x 0.00 | Yes | Pb-Free 100% Matte Tin Plate w/Anneal-e3 | 1960 | -40 to +105°C |
| ISL8844AABZ-T | Obsolete | N/A | Out of Stock | RoHS:EN | SOICN | 8# | Reel | 3 | 1.3mm | 4.9 x 3.9 x 0.00 | Yes | Pb-Free 100% Matte Tin Plate w/Anneal-e3 | 2500 | -40 to +105°C |
| ISL8844AAUZ | Obsolete | N/A | In Stock | RoHS:EN | MSOP | 8# | Tube | 1 | 0.7mm | 3.0 x 3.0 x 0.00 | Yes | Pb-Free 100% Matte Tin Plate w/Anneal-e3 | 1960 | -40 to +105°C |
| ISL8844AAUZ-T | Obsolete | N/A | Out of Stock | RoHS:EN | MSOP | 8# | Reel | 1 | 0.7mm | 3.0 x 3.0 x 0.00 | Yes | Pb-Free 100% Matte Tin Plate w/Anneal-e3 | 2500 | -40 to +105°C |
| ISL8844AMBZ | Obsolete | N/A | In Stock | RoHS:EN | SOIC | 8# | Tube | 3 | 1.3mm | 4.9 x 3.9 x 0.00 | Yes | Pb-Free 100% Matte Tin Plate w/Anneal-e3 | 1960 | -55 to +125°C |
| ISL8844AMBZ-T | Obsolete | N/A | Out of Stock | RoHS:EN | SOIC | 8# | Reel | 3 | 1.3mm | 4.9 x 3.9 x 0.00 | Yes | Pb-Free 100% Matte Tin Plate w/Anneal-e3 | 2500 | -55 to +125°C |
| ISL8844AMUZ | Obsolete | N/A | Out of Stock | RoHS:EN | MSOP | 8# | Tube | 1 | 0.7mm | 3.0 x 3.0 x 0.00 | Yes | Pb-Free 100% Matte Tin Plate w/Anneal-e3 | 1960 | -55 to +125°C |
| ISL8844AMUZ-T | Obsolete | N/A | In Stock | RoHS:EN | MSOP | 8# | Reel | 1 | 0.7mm | 3.0 x 3.0 x 0.00 | Yes | Pb-Free 100% Matte Tin Plate w/Anneal-e3 | 2500 | -55 to +125°C |
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- 产品变更通告英语PDF 266 KB 2020年6月04日
- 产品咨询英语PDF 106 KB PA16061 2016年6月08日
- 产品变更通告英语PDF 398 KB PCN15046 2016年1月07日
- 产品变更通告英语PDF 207 KB PCN13013 2013年3月19日
- 产品变更通告英语PDF 108 KB PCN12068 2012年8月21日
- 应用说明英语PDF 397 KB an1684 2004年1月19日AI 生成的摘要: The document outlines important legal disclaimers and usage guidelines for semiconductor products. It emphasizes user responsibility for product design and safety, disclaims liability for damages, and clarifies no intellectual property licenses are granted. Products are categorized by quality grades with specific application recommendations. Users must comply with laws, avoid unauthorized modifications, and ensure safe use within specified conditions. Contact details for Renesas Electronics sales offices worldwide are provided.
- 应用说明英语PDF 509 KB an1681 2004年1月19日AI 生成的摘要: The document explains grounding techniques for PCB layouts using a dual op amp example on a single-layer copper board. It compares three grounding schemes: a center spine ground trace, an outer ground plane, and a split/star ground plane, highlighting the benefits of single-point grounding to minimize noise and antenna effects. It emphasizes following current paths, minimizing loop lengths, and ensuring close forward and return paths to reduce interference. The document also includes disclaimers on product use, quality grades, safety, and legal compliance.
- 应用说明英语PDF 224 KB an9654 1999年5月05日AI 生成的摘要: The document explains the reliability and failure mechanisms of semiconductor parts, focusing on life testing and wearout. It discusses how switching states cause transient current pulses and hot carrier injection, which only occur briefly during switching. Life testing at elevated temperatures accelerates aging to remove infant mortality failures, improving reliability. The failure rate follows a bathtub curve with infant mortality, useful life, and wearout phases, modeled by lognormal and exponential distributions. The Arrhenius equation relates failure rates at different temperatures. Burn-in and life tests reduce early failures without harming intrinsic reliability.
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应用说明和白皮书 (3)
- 产品变更通告英语PDF 266 KB 2020年6月04日
- 产品咨询英语PDF 106 KB PA16061 2016年6月08日
- 产品变更通告英语PDF 398 KB PCN15046 2016年1月07日
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