IEC 60730 标准适用于家用电器和类似用途段电器的相关自动电控装置。 IEC 60730 附录 H 部分针对电子安全控制要求详细介绍了设计，测试和诊断方法，包括对燃烧设备类产品等需防止特殊危害的C类软件要求。
瑞萨电子为微控制器的自检项目准备了相应的样例程序和应用文档，并从认证机构 VDE，UL 和 TÜV Rheinland 取得 IEC 60730 C 类标准的认证。
IEC 60730 Class C 要求的微控制器诊断位置
图像
IEC 60730 Class C 要求
RA＆RL 的 IEC 60730/60335 的合规状况
| 标准编号，章节 | 微处理器内部模块 | 错误/异常 | 图例上位置 | 支持的微处理器 | |||
|---|---|---|---|---|---|---|---|
| RA4/6 series Cortex-M33 | RA2 series Cortex-M23 | RL78 family RL78-S3 | |||||
| 1. CPU | 1.1 寄存器 | CPU 寄存器 | 直流故障 | 1 | 软件实现 | 软件实现 | 软件实现 |
| 1.2 指令解码和执行 | CPU 指令 | 错误解码和执行 | 软件实现 | 软件实现 | 软件实现 | ||
| 1.3 程序计数器 | CPU 程序计数器 | 直流故障 | 软件实现 | 软件实现 | 软件实现 | ||
| 1.4 寻址 | CPU 指令，CPU 寄存器 | 直流故障 | 软件实现 | 软件实现 | 软件实现 | ||
| 1.5 数据路径指令译码 | CPU 指令 | 直流故障，执行 | 软件实现 | 软件实现 | 软件实现 | ||
| 3. 时钟 | 时钟 | 频率错误 | 4 | CAC 实现 | CAC 实现 | TAU 实现 | |
| 4. 存储器 | 4.1 不变存储器 | ROM/Flash | 所有单个数据故障 | 2 | CRC 实现 | CRC 实现 | CRC 实现 |
| 4.2 可变存储器 | RAM | 直流故障，动态交联 | 3 | 软件实现 | 软件实现 | 软件实现 | |
| 4.3 寻址 | RAM | 直流故障 | 3 | 软件实现 | 软件实现 | 软件实现 | |
| 5. 内部数据路径 | 5.1 数据 | ROM/RAM | 直流故障 | 2, 3 | 软件实现 | 软件实现 | 软件实现 |
| 5.2 寻址 | ROM/RAM | 地址错误，多重寻址 | 2, 3 | 软件实现 | 软件实现 | 软件实现 | |
RX 的 IEC60730/60335 认证
| 标准编号，章节 | 微处理器内部模块 | 错误/异常 | 图例上位置 | 支持的微处理器 | |
|---|---|---|---|---|---|
| RX100 / RX200 / RX600 | |||||
| 1. CPU | 1.1 寄存器 | CPU 寄存器 | 直流故障 | 1 | 软件实现 |
| 1.2 指令解码和执行 | CPU 指令 | 错误解码和执行 | 软件实现 | ||
| 4. 存储器 | 4.1 不变存储器 | ROM | 所有单个数据故障 | 2 | 软件和 CRC 模块实现 （不包括数据闪存） |
| 4.2 可变存储器 | RAM | 直流故障与动态交联 | 3 | 软件实现 | |
| 4.3 寻址 | ROM/RAM | 直流故障 | 2, 3 | 软件实现 | |
| 5. 内部数据路径 | 5.1 数据 | ROM/RAM | 直流故障 | 2, 3 | 软件实现 |
| 5.2 寻址 | ROM/RAM | 地址错误和多重寻址 | 2, 3 | 软件实现 | |
相关应用文档/样例程序
RA 的 IEC 60730/60335 认证
| 微处理器 | 应用文档 | 样例程序 | IDE/编译器 | 证书 |
|---|---|---|---|---|
| RA2 (RA2L1, RA2E1) | IEC 60730/60335 Self Test Library for RA2 MCU (CM23 Class-C) Rev.1.02 (PDF | English, 日本語) | IEC 60730/60335 Self Test Library for RA2E1 MCU (CM23 Class-C) (ZIP | English, 日本語) *For e2 studio | e2 studio/GCC | RA2 Class C VDE Certificate (PDF)*1 |
| IEC 60730/60335 Self Test Library for RA2L1 MCU (CM23 Class-C) (ZIP | English, 日本語) *For e2 studio | ||||
| RA6 (RA6M4, RA6M5, RA6E1, RA6E2, RA6T2, RA6T3) RA4 (RA4M2, RA4M3, RA4C1, RA4L1, RA4E1, RA4E2, RA4T1) | IEC60730/60335 Self Test Library for RA MCU (CM33 Class-C) Rev.1.03 (PDF | English, 日本語) | IEC60730/60335 Self test Library for RA MCU (CM33 Class-C) Rev.1.03 (ZIP | English, 日本語) *For e2 studio | e2 studio/GCC | RA4&6 VDE Certificate (PDF)*1 |
RL 的 IEC 60730/60335 认证
| 微处理器 | 应用文档 | 样例程序 | IDE/编译器 | 证书 |
|---|---|---|---|---|
| RL78 (G14, L1C, G2x, F2x) | IEC 60730/60335 Self Test Library for RL78 MCU (Class-C) Rev.1.01 (PDF | English, 日本語) | IEC 60730/60335 Self Test Library for RL78 MCU (Class-C) for e² studio (ZIP | English, 日本語) | e2 studio/CC-RL | RL78 Class C VDE Certificate (PDF)*1 |
| IEC 60730/60335 Self Test Library for RL78 MCU (Class-C) for CS+ (ZIP | English, 日本語) | CS+/CC-RL | |||
| RL78/L23 | IEC 60730/60335 Self Test Library for RL78/L23 MCU (Class-C) Rev.1.00 (PDF | English, 日本語) | IEC 60730/60335 Self Test Library for RL78/L23 MCU (Class-C) for e² studio (ZIP | English, 日本語) | e2 studio/CC-RL | RL78/L23 Class C VDE Certificate (PDF) |
| IEC 60730/60335 Self Test Library for RL78/L23 MCU (Class-C) for CS+ (ZIP | English, 日本語) | CS+/CC-RL |
1. IEC 60730/60335 由 VDE 认证。
RX 的 IEC60730/60335 认证
| 微处理器 | 应用文档 | 样例程序 | IDE/编译器 | 证书 |
|---|---|---|---|---|
| RX (RX130, RX13T, RX140, RX231, RX230, RX261, RX260, RX23T, RX23W, RX24T/U, RX26T, RX23E-A/B, RX65N, RX651, RX64M RX66T, RX66N, RX660, RX671, RX71M, RX72T, RX72N, RX72M) | 如需应用文档和样例程序，请联系瑞萨销售/代理商*2 | CC-RX | 证书编号 968/FSP 2651.04/25*3 | |
2. 原则上此产品适用于已采用或即将采用 RX 微处理器的客户。 本公司会对是否提供此产品进行审核， 某些情况下本公司可能会拒绝提供。
3. 您可在 TÜV Rheinland Search Certificate Database 上查看认证详情
UL 60730 是北美指定的功能安全标准。 Class C 相关信息，可使用下方网址，输入 UL No. 并进行搜索。
http://database.ul.com/cgi-bin/XYV/template/LISEXT/1FRAME/index.html
| MCU Family | Series | UL No. |
|---|---|---|
| RL | RL78/G14, RL78/L1C, RL78/G23, RL78/F24, RL78/L23 | E537266 |
| RA | RA2E1, RA2L1 | E537266 |