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描述

TP65H030G4PWS、650V、30mΩ, TO-247 封装的氮化镓 (GaN) FET 是使用瑞萨电子第四代加 SuperGaN® 平台的常闭器件。 它将高压 GaN 高电子迁移率晶体管 (HEMT) 与优化的低压硅 MOSFET 相结合,以提供卓越的性能、标准驱动、易于采用和增强的可靠性。

特性

  • TO-247 封装的 30mOhm、650V GaN 器件
  • 符合 JEDEC 标准的 GaN 技术
  • 低動態電阻Dynamic RDS(on)eff 驗証
  • 零反向恢复电荷
  • 减少分频损耗
  • 在硬开关和软开关电路中实现更高的效率,从而实现:
    • 提高功率密度
    • 减小系统尺寸和重量
    • 整体降低系统成本

产品对比

应用

文档

类型 文档标题 日期
数据手册 PDF 913 KB
手册 - 硬件 PDF 2.38 MB
应用说明 PDF 380 KB
白皮书 PDF 1.92 MB
其他 ZIP 283 KB
5 项目

设计和开发

开发板与套件

模型

ECAD 模块

点击产品选项表中的 CAD 模型链接,查找 SamacSys 中的原理图符号、PCB 焊盘布局和 3D CAD 模型。如果符号和模型不可用,可直接在 SamacSys 请求该符号或模型。

Diagram of ECAD Models

模型

类型 文档标题 日期
模型 - SPICE ZIP 61 KB
1 项目

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Gen IV Plus 650V SuperGaN FETs

The latest generation of high-voltage Gallium Nitride (GaN) FETs offers superior thermal efficiency and ultra-low power loss, enabling high-density power conversion in multi-kilowatt AI datacenters, industrial systems, and charging applications.

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